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Saturn DigiSizer II 5205全自動數(shù)字式激光粒度分析儀

天文學上高靈敏度和高分辨率的成像要求使CCDs得到了最初的發(fā)展。使用麥克公司專利以CCD為基礎(chǔ)的檢測器，Saturn DigiSizer激光粒度儀在分析過程中可獲得樣品的光散射圖樣Saturn DigiSizer CCD獲得的高清晰度數(shù)...查看全文

Elzone II 5390電阻法顆粒計數(shù)與粒度分析儀

ElzoneⅡ顆粒計數(shù)與粒度分析儀采用電阻法這種有效的顆粒粒度表征技術(shù)，可迅速、精確地檢測精細顆粒材料的尺寸、數(shù)目、濃度以及質(zhì)量。ElzoneⅡ被廣泛應(yīng)用于工業(yè)、生物、地質(zhì)等粒度大于0.4μm的顆粒，具有極高的準確度和分辨率，操作非常簡便。查看全文

SediGraph III PLUS全自動X光沉降粒度分析儀

SediGraph使用沉降法從均相液體中分析不同大小的固體顆粒物。通過對X-射線的吸收測量可以直接檢測分離固體顆粒物的質(zhì)量濃度。測定一定密度顆粒在已知密度和粘度的液體中的沉降，即可以運用Stokes方程來計算顆粒的等效球直徑。在這種情況下... 查看全文

全自動費氏粒徑測試儀SAS

SAS全自動費氏粒徑測試儀，是由費氏95粒徑儀（FSSS）發(fā)展和升級而來，是取代費氏95的新一代全自動費氏粒徑儀，SAS具有操作簡單，全自動數(shù)據(jù)記錄等功能，極大的提高了費氏粒徑儀的性能。查看全文

Particle Insight全自動粒度粒形分析儀

Particle Insight是一款現(xiàn)代化的動態(tài)圖像分析儀，對于那些不僅由于顆粒大小，并且也必須由顆粒形狀來確定原材料性能的應(yīng)用，Particle Insight是理想的工具。Particle Insight的眾多設(shè)計特性，可用于高分辨率... 查看全文

NanoPlus系列納米粒度與Zeta電位分析儀

70mW激光光源提供高清分析，可檢測混合物中的小體積聚集體。
多點測量掃描，用于測試等電點、配方穩(wěn)定性和膠體系統(tǒng)的均勻性，獲取體系真正的Zeta電位信息。了解、預(yù)測和量化產(chǎn)品的穩(wěn)定性。
通過單次測試即可在整個動態(tài)范圍內(nèi)獲取更多的樣品信息，節(jié)... 查看全文

粒度分析儀器

對粒度分析來說，沒有一種測試技術(shù)能夠滿足所有材料的應(yīng)用需求，選擇正確的測試方法是獲得可靠數(shù)據(jù)的關(guān)鍵，因此美國麥克儀器公司提供多種測定顆粒數(shù)量以及粒度分布的儀器，對應(yīng)不同的測試方法，滿足不同的應(yīng)用。查看全文

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